数字设计引论【2025|PDF|Epub|mobi|kindle电子书版本百度云盘下载】

数字设计引论PDF格式电子书版下载

注意：本站所有压缩包均有解压码： 点击下载压缩包解压工具

引论1

第一章 数制与编码12

1.1数制12

1.1.1二进制和任意进制12

1.1.2二进制13

1.1.3二进制数的算术运算16

1.1.4十六进制和八进制19

1.2.1 格雷码20

1.2 二值编码20

1.2.2 二进制原码、站码和反码22

1.2.3 带符号数的表示方法23

1.2.4 用反码和补码进行加/减运算25

1.2.5 二-十进制码27

1.2.6 ASSII码30

1.3 可靠性编码31

1.3.1 奇偶校验码32

1.3.3 纠错码的基本概念33

1.3.2 Berger码33

1.3.4 应用实例34

本章习题35

第二章 组合逻辑函数39

2.1 布尔规则39

2.1.1 代入规则40

2.1.2 反演规则41

2.1.3 对偶规则42

2.2 逻辑函数和逻辑表达式42

2.2.1 导出逻辑表达式与真填表43

2.2.2 积之和表达式与最小项表达式45

2.2.3 积之积表达式与最大项表达式46

2.3 逻辑图48

2.4 卡诺言图及逻辑化简52

2.4.1真值表与卡诺图52

2.4.2 表达式与卡诺图54

2.4.3 由卡诺图写出最简表达式57

2.4.4 未完全规定的逻辑函数的化简61

2.5 计算机辅助逻辑化简63

2.5.1 逻辑函数的描述64

2.5.2 蕴涵65

2.5.3 一种启发式逻辑函数最小化算法66

2.5.4 ESPRESSO算法68

2.6 应用实例69

本章习题77

3.1 集成逻辑电路的电气特性85

第三章 组合逻辑电路设计85

3.1.1 集成电路的主要电气指标86

3.1.2 逻辑电路的输出结构91

3.1.3 正、负逻辑极性92

3.1.4 逻辑符号93

3.2 常用组合逻辑模块95

3.2.1 4位进行加法器95

3.2.2 数值比较器98

3.2.3 译码器99

3.2.4 数据选择器105

3.2.5 总线收发器109

3.3 组合电路的设计方法113

3.3.1 由真值表、逻辑方程到门级实现113

3.3.2 功能分析和函数分解117

3.3.3 改进原电路，实现逻辑功能119

3.3.4 积木块化设计124

3.3.5 逻辑验证和逻辑模拟124

3.4 险象与竞争126

3.4.2 逻辑险象及其消除127

3.4.1 不考虑延迟时的电路输出127

3.4.3 功能险象130

3.4.4 输入信号的上升及下降时间引起的毛刺133

3.4.5 动态险象133

本章习题135

第四章 时序电路基础143

4.1 集成触发器143

4.1.1 基本R-S触发器143

5.2 算法流程图及ASM图147

4.1.2 时钟R-S触发器148

4.1.3 D触发器150

4.1.4 J-K触发器155

4.1.5 T与T 触发器158

4.2 同步时序电路161

4.2.1 同步时序电路的结构和代数法描述161

4.2.2 米里型电路的状态表（图）163

4.2.3 莫尔型电路的状态表（图）166

4.2.4 功能表描述168

4.2.5 自启动169

4.2.6 异步信号的处理172

4.3 集成计数器及其应用174

4.3.1 集成计数器174

4.3.2 任意模计数器177

4.3.3 计数的扩展179

4.3.4 集成计数器应用举例181

5.3.4 并行语句181

4.4 集成移位寄存器及其应用184

4.4.1 集成移位寄存器184

4.4.2 移位型计数器185

4.4.3 串--并变换器及并一串变换器187

4.4.4 线性移位寄存器189

4.5 随机访问存储器190

4.5.1 RAM的组成与原理191

4.5.2 静态RAM193

4.5.3 动态RAM196

4.5.4 RAM扩展与地址译码198

4.6 应用实例200

4.6.1 数码预置电路200

4.6.2 键盘扫描电路201

4.6.3 报警装置的密码控制电路202

本章习题205

第五章 同步时序电路和数字系统设计219

5.1 状态表与同步时序电路的基本设计方法220

5.1.1 原始状态表的建立220

5.1.2 用触发器实现同步时序电路227

5.1.3 用MSI时序模块实现同步时序电路239

5.2.1 算法流程图248

5.2.2 算法设计250

5.2.3 电路划分与逻辑框图253

5.2.4 数据处理单元的设计256

5.2.5 ASM图258

5.2.6 控制单元的设计261

5.2.7 设计举例268

5.3 硬件描述语言VHDL275

5.3.1 设计实体276

5.3.2 数据对象及类型279

5.3.3 顺序语句279

5.3.5 程序包285

5.3.6 应用实例286

本章习题289

第六章 集成数模和模数转换器的原理与组成296

6.1 集成数模转换器（DAC）296

6.2.1 A/D转换的一般技术298

6.1.1 常用D/A转换技术298

6.1.2 集成D/AC的组成308

6.1.3 DAC的主要技术参数309

6.1.4 集成DAC芯片的选择312

6.1.5 典型集成DAC应用举例314

6.2 集成模数转换器（ADC）317

6.2.2 常用A/D转换技术332

6.2.3 集成ADC的组成337

6.2.4 ADC的主要技术参数338

6.2.5 集成ADC芯片的选择341

6.2.6 典型集成ADC应用举例341

6.3 ADC和DAC的应用实例--数据采集和控制系统343

6.3.1 系统功能343

6.3.2 系统方案344

6.3.3 电路设计346

本章习题348

第七章 可编程逻辑器件及其应用360

7.1 PLD的基本原理362

7.1.1 PLD的基本组成362

7.1.2 PLD的编程363

7.1.3 阵列结构363

7.1.4 PLD中阵列的表示方法365

7.2 简单可编程逻辑器件SPID368

7.2.1 只读存储器ROM368

.2.2 可编程逻辑阵列PLA373

7.2.3 可编程阵列逻辑PAL376

7.2.4 通用阵列逻辑GAL380

7.2.5 输出逻辑宏单元OLMC381

7.2.6 OLMC的输出结构382

7.2.7 GAL应用举例384

7.3 高密度可编程逻辑器件HDPLD389

7.3.1 HDPLD概述390

7.3.2 HDPLD组成391

7.3.3 HDPLD的宏单元399

7.3.4 HDPLD的输入/输出单元400

7.3.5 HDPLD的可编程连线资源402

7.3.6 isp 和icr编程技术404

7.4 用PLD实现数字系统406

本章习题425

第八章 数字电路测试和可测试设计434

8.1 数字电路的故障检测435

8.1.1 故障模型436

8.1.2 用通路敏化法导出测试码437

8.1.3 构成完全检测测试集439

8.1.4 伪穷举测试和伪随机测试440

8.1.5 同步时序电路的测试441

8.1.6 测试设备和内自测试442

8.1.7 特征分析器444

8.2 数字电路的可测试设计446

8.2.1 可控制性和可观察性446

8.2.2 改善电路可测试性的方法448

8.2.3 扫描设计技术452

8.3 边界扫描设计454

8.3.1 边界扫描芯片的结构455

8.3.2 利用边界扫描设计进行故障检测457

本章习题458

参考书目461

汉英名词术语对照462